測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
EXTRA系列半動影像測量儀為客戶提供超越一般產品的測量功能與用戶體驗。機身結構輕量化處理,讓結構變得更為緊湊,同時保持高剛性,高穩定性的機械特性,在最少占用空間的情況下獲得最大的測量范圍
軟件操作
技術參數
項目 | EXTRA 200 | |
外型尺寸(mm) | 550 X 540 X 930 | |
測量范圍(mm)(X*Y*Z) | 200*100*150 | |
測量精度(μm) | 2.5+L/200 | |
重復精度(μm) | 2.5 | |
儀器重量(kg) | 140 | |
影像及測量 | CCD | 120萬像數字相機 |
物鏡 | 手動電子反饋信號變倍鏡頭0.7-4.5X | |
總放大倍率 | 18-195X(根據選配相機的不同型號,其放大倍率隨之改變;實際倍率以實測數據為準) | |
物方視場 | 8.1~1.3mm(根據相機與鏡頭的不同搭配方案,視場大小會隨之改變,實際視場以實測數據為準) | |
工作距離 | 90mm | |
光柵尺解析度 | 0.5μm | |
驅動系統 | X/Y軸手動控制,Z軸CNC全閉環運動控制(含自動對焦功能) | |
照明光源 | 可程控LED四分區環形表面光,LED底部平行光(可選配:八分區環形光、同軸光) |
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應用領域
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