測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：02-27 2021 來自：祥宇精密
3D玻璃折彎高度及平整度測量設備在3D平整度玻璃行業越來越火熱
隨著OLED技術的發展，手機行業龍頭重資金投入，讓OLED技術日趨成熟，OLED未來取代LCD玻璃面板已漸成趨勢，柔性顯示屏占比面積大幅增加，當然需要蓋板玻璃配合做成3D的形狀，而3D玻璃是目前唯一能夠較好和平面度屏幕貼合的硬物質。
手機屏幕技術的快速發展也帶動了相關產業鏈的設備自主研發升級，作為3D平面度玻璃生產中重要的一環，檢測技術的升級提高也迫在眉頭。其中祥宇國際檢測發展非常迅速。為不少的手機零部件制造廠商提供的3D玻璃折彎高度及玻璃蓋板平面度測量儀。
3D玻璃折彎高度及玻璃蓋板平面度測量儀采用激光非接觸式檢測原理，不損傷產品。并且除了采用測量兩邊彎曲的3D玻璃，或兩邊彎曲的玻璃貼膜的弧高、及平面度時，每個工位每次可測量多片，每片玻璃的兩邊弧高各取10個點，共幾十個點，每片的測量時間用秒來計算。預計未來不久3D玻璃折彎高度及平面度測量機將在3D玻璃檢測行業將引領一波風潮！
祥宇計量是測量設備供應專家，主打影像測量儀，刀具測量儀，歡迎有需要的朋友來電咨詢詳談，您的一次溝通，我們之間便有了故事。
400-801-9255
聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
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