測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時(shí)間:05-29 2025 來自:祥宇精密
遇到顯示屏黑屏,80%的維修人員會直接拆機(jī)檢測,這往往導(dǎo)致問題復(fù)雜化。正確的做法是遵循"由外到內(nèi)"的排查原則:
基礎(chǔ)排查無果時(shí),需進(jìn)入專業(yè)檢測階段。建議準(zhǔn)備數(shù)字示波器、邏輯分析儀等設(shè)備,按以下流程操作:
主板信號檢測流程
典型故障特征庫
故障現(xiàn)象 | 可能部件 | 驗(yàn)證方法 |
---|---|---|
屏幕有背光無圖像 | LVDS排線/TCON板 | 替換法測試 |
顯示閃爍條紋 | 主板顯卡芯片 | 熱成像儀檢測溫度 |
局部花屏 | 液晶面板壓傷 | 顯微鏡觀察TFT陣列 |
冷機(jī)不顯示 | 電容老化 | ESR表檢測濾波電容 |
EEPROM數(shù)據(jù)恢復(fù)
某次維修中發(fā)現(xiàn),設(shè)備因靜電導(dǎo)致顯示配置數(shù)據(jù)丟失。通過以下步驟修復(fù):
400-801-9255