












測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時間:08-04 2023 來自:祥宇精密
在制造業繁榮發展的今天,影像測量儀已成為各種工業測量中的重要工具。它以其高精度、非接觸性和高效率等特點,在逆向工程、CAD/CAM/CAE以及精密制造等領域發揮著不可替代的作用。但是,無論儀器設備多么先進,都需要定期進行校準以確保其測量的準確性。
影像測量儀校準規范要求包括儀器各軸的幾何參數、運動參數以及定位精度等。這些參數的準確性對儀器的測量結果有著至關重要的影響。例如,儀器的重復定位精度、定位誤差等參數的準確性,直接關系到測量結果的可靠性。因此,對這些參數的校準是必不可少的。影像測量儀校準規范要求還包含對儀器測頭及測頭座的校準。測頭及測頭座是影像測量儀的重要部件,其準確性和精度對測量結果具有重要影響。測頭及測頭座的校準包括對測頭位置的校準、測頭角度的校準以及對測頭座的水平度、垂直度的校準等。

這些參數的校準,需要借助高精度的測量設備,如激光干涉儀、三坐標測量儀等。影像測量儀校準規范要求還涵蓋了對儀器光學系統的校準。影像測量儀的光學系統對其測量精度具有重要影響。光學系統的校準包括對物鏡的校準、對攝像頭的校準以及對光源的校準等。這些校準需要借助專業的光學儀器,如光學分光鏡、光譜分析儀等。
影像測量儀校準規范要求還包含了對儀器軟件部分的校準。儀器軟件的準確性對其測量結果的可靠性具有重要影響。軟件部分的校準包括對軟件算法的校準、對坐標系統的校準以及對測量程序的準確性的校準等。這些校準需要借助專業的軟件測試工具,如代碼審查工具、自動化測試工具等。

影像測量儀校準規范要求是一項復雜而重要的工作。它需要我們對儀器各部分進行全面、精確的校準,以確保儀器的測量準確性。在這個過程中,我們需要借助各種高精度的測量設備及專業的軟件工具,來保證校準工作的準確性和高效性。此外,我們還需要遵循一定的校準流程,以確保校準工作的有序進行。我們需要先對儀器進行預熱,然后按照規定的校準流程,依次對儀器各軸的幾何參數、運動參數以及定位精度等進行校準。在完成硬件部分的校準后,我們還需要對軟件部分進行校準,以確保軟件算法的準確性及測量程序的可靠性。

總之,影像測量儀校準規范要求是保證影像測量儀測量準確性的重要手段。只有遵循規范的校準要求,才能確保影像測量儀在工業測量中的可靠性和精度。因此,無論是企業還是個人,都應當重視影像測量儀的校準工作,確保儀器處于良好的工作狀態,為制造業的發展貢獻力量。
400-801-9255
微信咨詢詳情