












測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時間:06-19 2023 來自:祥宇精密
如果你還在使用卷尺或者直尺來進行測量,那么你可能無法得到足夠的精度,特別是在需要精確測量的領域。高精度測量工具可以幫助我們得到更加準確的測量結果,從而提高工作效率和準確度。那么,高精度測量工具都有哪些呢?
一、光學測量工具
光學測量工具主要是利用光學原理進行測量的工具,包括激光測距儀、顯微鏡、望遠鏡、光柵等。這些工具具有非接觸式、高精度、高速度、大范圍等特點,被廣泛應用于機械加工、制造、模具、電子等領域。
例如,激光測距儀通過發射激光束,利用光的散射原理和時間差原理來測量物體的距離。它可以測量長距離、曲線面、高度差等參數,并且精度高達毫米級別。
二、機械測量工具
機械測量工具是指基于機械原理進行測量的工具,包括游標卡尺、內徑卡尺、外徑卡尺、深度卡尺等。這些工具可以測量長度、寬度、厚度、直徑、內外徑、深度等參數。

例如,游標卡尺可以通過移動滑塊和主尺來進行測量,精度可達0.02毫米,被廣泛應用于機械加工、汽車維修等領域。
三、電子測量工具
電子測量工具是指基于電子技術進行測量的工具,包括數字萬用表、示波器、信號源、頻譜分析儀等。這些工具可以測量電壓、電流、電阻、頻率、功率等參數,被廣泛應用于電子、通訊、自動化等領域。
例如,數字萬用表可以通過選擇不同的測量模式來測量電壓、電流、電阻等參數,精度可達0.01%。
參考文獻:
1. 《機械制圖》第四版,清華大學出版社,2013年
2. 《電子測量與儀器》第二版,電子工業出版社,2004年
3. 《光學測量技術》第三版,機械工業出版社,2006年
400-801-9255
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