測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:12-03 2024 來自:祥宇精密
電路板(PCB)作為電子設備的核心部件,其質量直接影響到設備的性能和可靠性。因此,如何高效、準確地檢測電路板的質量成為了一個重要課題。影像測量儀作為一種先進的檢測工具,因其高精度和自動化程度,逐漸成為電路板檢測的首選。
在開始檢測之前,首先要確保影像測量儀處于良好的工作狀態。檢查電源、鏡頭、光源等部分是否正常工作。特別是鏡頭和光源部分,要確保沒有灰塵和污漬,以免影響測量精度。
工作環境的整潔度也會影響測量結果。確保工作臺干凈無塵,避免外界因素干擾測量。此外,穩定的溫度和濕度也是保證測量精度的重要條件。
將待檢測的電路板放置在工作臺上,并使用夾具或其他固定裝置確保其穩定。確保電路板平整,無明顯折痕或變形,以免影響測量結果。
根據電路板的大小和細節,選擇合適的鏡頭倍率。一般來說,細節越多的電路板,需要選擇更高倍率的鏡頭。調整鏡頭的焦距,使電路板的圖像在顯示器上清晰可見。
光源的亮度和角度對測量結果有很大影響。調節光源,使電路板的圖像清晰、無陰影。對于反光較強的電路板,可以嘗試調整光源的角度,以減少反光對測量的影響。
使用攝像頭捕捉電路板的圖像,并將其傳輸到計算機。確保圖像清晰、無模糊。如果圖像不清晰,可以通過調整鏡頭的焦距來改善。
使用專用的測量軟件對圖像進行處理。常見的處理步驟包括邊緣提取、特征識別等。這些步驟可以幫助你更準確地測量電路板的各項參數。
影像測量儀通常配備多種測量工具,如點、線、圓、弧等。根據需要,選擇合適的工具進行測量。例如,可以使用線工具測量電路板上的線路寬度,使用圓工具測量焊盤的直徑。
將測量結果與標準數據或模板進行對比,找出差異和潛在的問題。例如,如果電路板上的線路寬度不符合標準,可能需要調整生產工藝。
將測量結果記錄下來,以便后續分析和處理。可以使用表格或數據庫來存儲測量數據,方便日后查閱和統計。
根據測量結果生成詳細的報告。報告應包括各項測量數據、偏差、合格與否等信息。可以使用圖表等形式直觀展示數據,便于理解和分析。
如果發現質量問題,及時將信息反饋給生產部門,以便進行相應的調整和改進。通過持續的反饋和調整,可以不斷提高電路板的質量和一致性。
400-801-9255